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Processo para testar conjunto de circuitos eletrônicos e circuito integrado

A invençào propõe um processo de teste e arranjo associado para conjuntos de circuitos eletrônicos que combina componentes funcionais que são interconectados por meio de canais de aperto de mão.... (ver mais)


A invençào propõe um processo de teste e arranjo associado para conjuntos de circuitos eletrônicos que combina componentes funcionais que são interconectados por meio de canais de aperto de mão. Diversos canais deste tipo são agora, providos com uma junção de entrada e uma chave de saída, como um par de componentes de teste. A junção possui duas portas passivas e uma porta ativa. A chave possui uma porta passiva e duas portas ativas que são selecionadas através de uma porta de controle passiva. Desta maneira, a entrada e a saída de um canal se torna possível. Agora, a entrada é feita em um primeiro canal, a saída em um segundo canal, de modo tal que todos os componentes que se encontram entre a primeira junção do canal e a segunda chave do canal são testados.

Publicações:

Revista Data Despacho Descrição
1633 23/04/2002 8.6
Arquivamento - Art.86 da LPI.Arquivado o pedido por falta de pagamento de anuidade, por pagamento de anuidade... (ver mais)
Complemento: Referente à 5ª, 6ª, 7ª, 8ª, 9ª anuidades.
1381 20/05/1997 25.4
Alteração de Nome Deferida.Notificação do deferimento da alteração de nome requerida. Desta data corre o prazo... (ver mais)
1303 21/11/1995 4.1
Publicação do Pedido de Exame
1186 24/08/1993 3.1
Pedido Publicado
1166 06/04/1993 2.1
Pedido Depositado

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