Processo e dispositivo para detecção de elétrons secundários emitidos por amostras a alta temperatura. Novo processo e dispositivo associado para detecção de elétrons secundários a alta temperatura em amostras de interesse geral proporcionado uma imagem de alta resolução das mesmas, pela tecnologia em microscopia eletrônica de varredura. Visando o desenvolvimento desta tecnologia e permitindo obter imagens de qualidade razoável de amostras aquecidas até 1800°c permitindo o estudo de propriedades e comportamento das amostras nas condições mais próximas das de operação e/ou em condições adversas.

• Palavras-chave:

  imagem de alta resolucao; qualidade razoavel de amostras; imagem de alta; temperatura em amostras; amostras; alta;

• Inventor:

  Antonio Jose Ramirez (Sou/Conheço o inventor)
  Rafael Gusmão dos Santos (Sou/Conheço o inventor)
  Edwar Andrés Torres (Sou/Conheço o inventor)
  Carlos Roberto Scorzato (Sou/Conheço o inventor)
  

• Depositante: Abtlus - Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (BR/SP)
• Procurador: Toledo Corrêa Marcas e Patentes S/C Ltda

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